TT210覆层测厚仪

     功能： 双功能：采用磁性和涡流良种测厚方法，可无损测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度和非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

    测量范围： 根据探头0～1250μm

    特点：  中文菜单，自动识别金属底材，并自动选择测量方法－电磁法或点涡流法。